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MICRON

SCI/SCIE
MICRON
雜志名稱:微米
簡稱:MICRON
期刊ISSN:0968-4328
大類研究方向:工程技術
影響因子:1.53
數據庫類型:SCI/SCIE
是否OA:No
出版地:ENGLAND
年文章數:130
小類研究方向:工程技術-顯微鏡技術
審稿速度:約3.0個月
平均錄用比例:約50%

官方網站:http://www.elsevier.com/wps/find/journaldescription.cws_home/475/description#description

投稿網址:http://ees.elsevier.com/jmic/

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MICRON

英文簡介

Micron is an interdisciplinary forum for all work that involves new applications of microscopy or where advanced microscopy plays a central role. The journal will publish on the design, methods, application, practice or theory of microscopy and microanalysis, including reports on optical, electron-beam, X-ray microtomography, and scanning-probe systems. It also aims at the regular publication of review papers, short communications, as well as thematic issues on contemporary developments in microscopy and microanalysis. The journal embraces original research in which microscopy has contributed significantly to knowledge in biology, life science, nanoscience and nanotechnology, materials science and engineering.

MICRON

中文簡介

美光是一個跨學科的論壇,為所有涉及顯微鏡新應用的工作,或在先進顯微鏡發揮核心作用。該雜志將出版有關顯微鏡和微觀分析的設計、方法、應用、實踐或理論,包括有關光學、電子束、X射線顯微層析成像和掃描探針系統的報告。它還致力于定期發表評論論文、簡短的交流以及關于顯微鏡和微量分析當代發展的專題問題。該雜志包含了原始的研究,其中顯微鏡在生物學、生命科學、納米科學和納米技術、材料科學和工程方面的知識做出了重大貢獻。

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