METROLOGIA
SCI/SCIE
- 雜志名稱：計量學(xué)
- 簡稱：METROLOGIA
- 期刊ISSN：0026-1394
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：3.447
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCI/SCIE
- 是否OA：No
- 出版地：FRANCE
- 年文章數(shù)：100
- 小類研究方向：工程技術(shù)-儀器儀表
- 審稿速度：偏慢,4-8周
- 平均錄用比例：較易
官方網(wǎng)站：http://iopscience.iop.org/0026-1394/
投稿網(wǎng)址：http://mc04.manuscriptcentral.com/met-bipm
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METROLOGIA
英文簡介The leading international journal in pure and applied metrology, published by IOP Publishing on behalf of Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).
METROLOGIA
中文簡介國際領(lǐng)先的純計量和應(yīng)用計量雜志，由IOP出版社代表國際計量局(BIPM)出版。
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- ACM Transactions on Autonomous and Adaptive Systems
- 期刊ISSN：1556-4665
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCIE
- 咨詢投稿
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- ACM Transactions on Architecture and Code Optimization
- 期刊ISSN：1544-3566
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：1.444
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCIE
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- ACM Transactions on Applied Perception
- 期刊ISSN：1544-3558
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCIE
- 咨詢投稿
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- ACM Transactions on Algorithms
- 期刊ISSN：1549-6325
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCIE
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- ACM SIGPLAN NOTICES
- 期刊ISSN：0362-1340
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：
- 數(shù)據(jù)庫類型：
- 咨詢投稿
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- ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems
- 期刊ISSN：1550-4832
- 大類研究方向：工程技術(shù)
- 影響因子：2.013
- 數(shù)據(jù)庫類型：SCIE
- 咨詢投稿
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